手持式光谱仪产品详细资料介绍，手持式光谱分析仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供手持式光谱仪报价和操作说明。按照不同的行业和测试物质，可分为手持式合金分析仪XRF5000，手持式矿石分析仪XRF7000，XRF8000，手持式土壤重金属快速分析仪XRF9000，手持式ROHS有害元素分析仪XRF3000。利用新一代半导体检测器提高测试速度和分析精度，手持式光谱仪的应用已经越来越广泛。
手持式分析仪 探测器：13mm2 电致冷Si-PIN探测器 激发源：40KV/50uA-银端窗一体化微型X光管 检测时间：10-200秒（可手持式或座立式测试） 检测对象：固体、液体、粉末 检测范围：硫(S)到铀(U)之间所有元素 可同时分析元素：多至26个元素 元素检出限：0.001%～0.01% 校正方式： 银(Ag) 性：自带模式，非授权人员无法使用 Data使用性：可在PDA内进行编辑，可导入PC机进行 保存打印，配备海量存储卡 电 源： 两块锂电池满电可连续工作8小时

对于金属制造行业来说 ,质量控制和非常重要。材料检验是确保金属制品使用合格材质的关键。如 果使用不合格的金属合金,会引起灾难性事故,给企业 带来巨大的经济损失。手持合金成分分析仪是检测金属材料是否合格的关键性手段。有了手持式合金分析仪，质量控制以及检测人员可以 在完全无损的条件下,每天地检测上千个金属合金样 品。即使是普通工作人员也有把握地将大量的 样 品 测 出 完 整 而 准确 的 结 果 。测试时间是1~2秒,无需制备样品,从金属细丝到成品焊点,螺钉, 金属板 ——所有这些样品都可以被手持分析仪检测。

手持式光谱仪是一种基于XRF光谱分析技术的光谱分析仪器，当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子从而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的状态,当较外层的电子跃迁到空穴时,产生一次光电子，击出的光子可能再次被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，发生俄歇效应,亦称次级光电效应或无效应。所逐出的次级光电子称为俄歇电子。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不被原子内吸收,而是以光子形式放出,便产生X 射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。因此，射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。由Moseley定律可知，只要测出荧光X射线的波长,可以知道元素的种类,这是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特息。

手持式光谱仪设备维护与保养： 　　
1.手持式光谱仪使用过程中应轻拿轻放，防止内部零件受损。
 2.保持检测口薄膜的清洁，检测口薄膜被污染可能引起检测误差。检测口薄膜破损继续使用可能会造成手持式光谱仪的损坏。应及时清洁或更换。 　　
3.被检测物表面的氧化层和污染物等要用砂轮机或金刚砂去除，以免造成测量结果不准确，被检测物表面凹凸不平、有毛刺时应在检测时注意，防止手持式光谱仪检测口薄膜损坏。检测镀件时，要将电镀层去除。 　　
4.手持式光谱仪电池使用至10%时，应更换电池，充电。
手持式光谱仪系统误差的来源有： (1)标样和试样中的含量和化学组成不完全相同时，可能引起基体线和分析线的强度改变，从而引入误差。 (2)标样和试样的物理性能不完全相同时，激发的特征谱线会有差别从而产生系统误差。 (3)浇注状态的钢样与经过退火、淬火、回火、热轧、锻压状态的钢样金属组织结构不相同时，测出的数据会有所差别。 (4)未知元素谱线的重叠干扰。如熔炼过程中加入脱氧剂、除硫磷剂时，混入未知合金元素而引入系统误差。 (5)要系统误差，必须严格按照标准样品制备规定要求。为了检查系统误差，需要采用化学分析方法分析多次校对结果。
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