X荧光光谱仪优点:
1、分析速度高。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟可以测完样品中的全部待测元素;
2、X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内,这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定;
3、非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量,结果重现性好;
4、X射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析;
5、分析精密度高;
6、制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
X荧光光谱仪在无损检测方面,具有其他剖析技能无法比较的长处,应用X射线光谱仪扫描办法探测土壤表层下面的是元素是X射线无损检侧技能的一个主要使用范畴,X荧光光谱仪根据有手持和台式两种,所采用的都是X荧光光谱仪的原理,X荧光光谱仪由激发源和探测系统构成,根据各元素的特征X射线的强度,也可以获得各元素的含量信息。
X荧光光谱仪根据其分光原理不同分成波长色散型X荧光光谱仪(波谱仪,WDXRF)和能量色散型X荧光光谱仪(能谱仪,EDXRF),我们通常所说的X荧光光谱仪就是指波长色散的仪器,X荧光光谱仪可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量剖析,元素局限13Al-92U,含量局限ppb至,检出限到2pg。
X荧光光谱仪是一种无损的,应用广泛的光谱分析仪器,X荧光光谱仪由激发源和探测系统构成,X射线管产生入射X射线,激发被测样品,受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。
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