X荧光光谱仪随着分光、探测系统及X光管等的不断改善和电子计算机的应用,而得到迅速的推广和发展。可以预料,对新技术、新方法的探索,还会不断促进X荧光光谱仪器的更新发展。
X荧光光谱仪根据其分光原理不同分成波长色散型X荧光光谱仪(波谱仪,WDXRF)和能量色散型X荧光光谱仪(能谱仪,EDXRF),我们通常所说的X荧光光谱仪就是指波长色散的仪器,X荧光光谱仪可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量剖析,元素局限13Al-92U,含量局限ppb至,检出限到2pg。
X荧光光谱仪是一种无损的,应用广泛的光谱分析仪器,X荧光光谱仪由激发源和探测系统构成,X射线管产生入射X射线,激发被测样品,受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。
X荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法,X射线荧光是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线,这种现象被广泛用于元素分析和化学分析,特别是在金属,玻璃,陶瓷和建材的调查和研究,地球化学,法,考古学和艺术品,例如油画和壁画。
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