X荧光光谱仪根据有手持和台式两种,所采用的都是X荧光光谱仪的原理。X荧光光谱仪由激发源和探测系统构成,根据各元素的特征X射线的强度,也可以获得各元素的含量信息。
X荧光光谱仪根据其分光原理不同分成波长色散型X荧光光谱仪(波谱仪,WDXRF)和能量色散型X荧光光谱仪(能谱仪,EDXRF),我们通常所说的X荧光光谱仪就是指波长色散的仪器,X荧光光谱仪可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量剖析,元素局限13Al-92U,含量局限ppb至,检出限到2pg。
X荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法,X射线荧光是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线,这种现象被广泛用于元素分析和化学分析,特别是在金属,玻璃,陶瓷和建材的调查和研究,地球化学,法,考古学和艺术品,例如油画和壁画。
X荧光光谱仪在无损检测方面,具有其他剖析技能无法比较的长处,应用X射线光谱仪扫描办法探测土壤表层下面的是元素是X射线无损检侧技能的一个主要使用范畴,X荧光光谱仪根据有手持和台式两种,所采用的都是X荧光光谱仪的原理,X荧光光谱仪由激发源和探测系统构成,根据各元素的特征X射线的强度,也可以获得各元素的含量信息。
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